為了適應(yīng)市場(chǎng)的要求，國(guó)際IEC的標(biāo)準(zhǔn)也不斷的更新中。IEC（International Electrotechnical Commission）于2016年7月發(fā)布新版本的SAR (比吸收率) 測(cè)試基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)之一, IEC 62209-1，詳情如下：

從以上表格可知，當(dāng)前更新的標(biāo)準(zhǔn)版本為IEC 62209-1的第二版，距此標(biāo)準(zhǔn)的初次出版已有十多年的時(shí)間，而這十多年的時(shí)間正是無(wú)線通信產(chǎn)品飛速發(fā)展的十多年。這十多年間，貼近人體的無(wú)線通信產(chǎn)品應(yīng)用越來(lái)越廣泛，其運(yùn)用的技術(shù)也越來(lái)越復(fù)雜。從而給人體電磁能量吸收的測(cè)量帶來(lái)了較大的困難以及挑戰(zhàn)。

而新版比吸收率（SAR）測(cè)試基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)IEC 62209-1的發(fā)布，明確較多之前標(biāo)準(zhǔn)未覆蓋的難點(diǎn)，同時(shí)也引入新的測(cè)量技術(shù)方法，能更好地保證人們在使用無(wú)線通信產(chǎn)品的電磁輻射安全。

新版標(biāo)準(zhǔn)的主要更新如下：

1. Extension of the frequency range to 300 MHz to 6 GHz.

當(dāng)前標(biāo)準(zhǔn)將可適用的頻率范圍由300 MHz to 3 GHz 拓展至 300 MHz to 6 GHz

2. Fast SAR methods.

與新版的IEEE 1528（2013版）類(lèi)似，為減少測(cè)試時(shí)長(zhǎng)，引入快速掃描Fast SAR測(cè)試方法

3. Test reduction techniques.

同樣從減少測(cè)試時(shí)長(zhǎng)的角度考慮，新增測(cè)試配置減少判定程序，主要從以下四個(gè)方面來(lái)考慮

? Test reduction for different operating modes at the same test frequency band using the same wireless technology

基于樣品在相同頻段內(nèi)、運(yùn)用相同技術(shù)，而處于不同工作模式的測(cè)試減少程序

? Test reduction based on characteristics of the OUT design

基于特定設(shè)計(jì)樣品的測(cè)試減少程序

? Test reduction based on peak SAR level analysis

基于樣品SAR值結(jié)果分析的測(cè)試減少程序

? Test reduction based on simultaneous multi-band transmission considerations

基于樣品多發(fā)射機(jī)同時(shí)工作時(shí)的測(cè)試減少程序

4. SAR measurements of terminals with multiple antennas and multiple transmitters.

新增多發(fā)射機(jī)以及多天線樣品的測(cè)試程序說(shuō)明

5. Deviation of dielectric characteristics of the tissue-equivalent liquids is relaxed up to 10 %.

將液體介電常數(shù)的偏移要求寬松至10%

6. Uncertainty evaluation guidelines for temperature and dielectric parameter deviations of tissue-equivalent liquids.

新增針對(duì)溫度以及液體介電常數(shù)偏移的不確定評(píng)估指導(dǎo)

7. Addition of the following annexes:

? Annex K (informative) Measurement uncertainty of specific fast SAR methods and fast SAR examples

附錄K (參考性) 快速掃描SAR測(cè)試不確定評(píng)估以及舉例說(shuō)明

? Annex L (informative) SAR test reduction supporting information

附錄L (參考性) SAR測(cè)試減少判定程序支持信息

? Annex M (informative) Applying the head SAR test procedures

附錄M (參考性) 頭部SAR測(cè)試程序應(yīng)用

? Annex N (informative) Studies for potential hand effects on head SAR

附錄N (參考性) 考慮頭部SAR時(shí)，對(duì)人手帶來(lái)潛在影響的研究

? Annex O (informative) Quick start guide

附錄O (參考性) 本標(biāo)準(zhǔn)的快速開(kāi)始指導(dǎo)（轉(zhuǎn)自BALUN原創(chuàng)）

  SAR測(cè)試是IEC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的重要項(xiàng)目之一，微測(cè)檢測(cè)提醒各企業(yè)要密切關(guān)注標(biāo)準(zhǔn)及測(cè)試要求的更新，提前做好準(zhǔn)備，規(guī)避風(fēng)險(xiǎn)。想要了解更多內(nèi)容，請(qǐng)登陸微測(cè)官網(wǎng)：juan-bian-bei.com,或撥打咨詢(xún)熱線：400-666-1678！微測(cè)檢測(cè)竭誠(chéng)為您服務(wù)！