由微測檢測主辦的"智能排插研討會"于2016年12月9日在深圳市成功召開。大會以智能排插為主題，旨在為智能排插領域提供一個探討最新核心技術、應對策略、創(chuàng)新技術（產(chǎn)品）一個高層次的溝通、合作、交流平臺。

      本次會議邀請了 Intertek 天祥資深工程師 Angus Tam、微測檢測技術經(jīng)理 Ares 、微測檢測項目經(jīng)理 Yoki 等智能排插領域專家進行了探討和分析。與會人員積極互動，分享了滿滿的干貨，活動現(xiàn)場氣氛熱烈。

微測檢測總經(jīng)理致辭

天祥 Angus Tam分享

   在大家依依不舍中，智能排插研討會圓滿落幕。感謝每一位參會代表和工作人員的辛苦付出，活動能夠得到大家的一致肯定和支持，你們的付出是值得。

   最后驚喜大放送，微測檢測在2017年新的一年將會有一場神秘大會接踵而至，錯過這次的你不用遺憾，盡情期待吧！