【微測】失效分析技術(shù)要求及使用設(shè)備詳解
隨著市場對產(chǎn)品的要求越來越高,企業(yè)的生產(chǎn)要求也越來越嚴(yán)格,在產(chǎn)品的生產(chǎn)過程中為提高產(chǎn)品質(zhì)量、促進產(chǎn)品技術(shù)的進步,工程師經(jīng)常會遇到關(guān)于失效分析的概念。下面微測給您詳細(xì)介紹一下關(guān)于失效分析的詳細(xì)介紹。
什么是失效分析?
失效分析是對已失效器件進行的一種事后檢查。使用電測試以及先進的物理、金相和化學(xué)的分析技術(shù),驗證所報告的失效,確定試銷模式,找出失效機理。
做失效分析的作用
根據(jù)失效分析得出的相關(guān)結(jié)論,確定失效的原因或相關(guān)關(guān)系,從而在產(chǎn)生工藝、器件設(shè)計、試驗或應(yīng)用方面采取糾正措施,以消除失效模式或機理產(chǎn)生的原因,或防止其再次出現(xiàn)。
失效分析技術(shù)與設(shè)備
24小時 客戶服務(wù)熱線:如果您對以上失效分析感興趣或有疑問,請點擊聯(lián)系我們網(wǎng)頁右側(cè)的在線客服,或致電:400-666-1678,微測檢測——您全程貼心的認(rèn)證顧問。
相關(guān)資訊
推薦認(rèn)證
同類文章排行
- 微測檢測 | 一文帶您了解谷歌Fast Pair
- 微測檢測 | 一文帶您了解谷歌Fast Pair
- 微測檢測為您全方面解析美國UL1973安全標(biāo)準(zhǔn)
- 資訊 | IEC 62133-2:2017+AMD1:2021新版發(fā)布細(xì)則
- 【UKCA最新消息】英國UKCA強制實施日期延期至2023年1月1日
- 一文帶你了解Magsafe認(rèn)證及設(shè)計要求
- 重要:蘋果正式開放MagSafe磁吸無線充模塊認(rèn)證
- 西班牙頒布最新衛(wèi)生口罩法規(guī)要求CSM/115/2021
- 又一標(biāo)準(zhǔn)更新,歐盟更新CE RED指令
- 英國最新社區(qū)口罩測試規(guī)范