【技術(shù)】手機電量對輻射騷擾測試的影響
手機是我們平時接觸最多的電子設(shè)備,其輻射騷擾已越來越引起技術(shù)工程人員和測試人員的關(guān)注。 輻射騷擾主要是指能量以電磁波的形式由源發(fā)射到空間,或能量以電磁波形式在空間傳播的現(xiàn)象。輻射騷擾是電磁兼容的重要內(nèi)容,也是測試最不容易通過且最難整改的項目。輻射騷擾超標(biāo)的產(chǎn)品可能引起周圍裝置、設(shè)備或系統(tǒng)性能降低,干擾信息技術(shù)設(shè)備或其他電子產(chǎn)品的正常工作,并對人體造成一定危害。
大多情況下,對于手機CE認證中輻射騷擾測試超標(biāo),一般會圍繞機殼,端口,電路或線纜進行整改,然而輻射測試超標(biāo)的因素遠不止于此。下面我們通過一個實例,去了解一個我們平時在整改過程中不太會關(guān)注的因素—就是手機電池電量。
近期我們接到一個手機做輻射騷擾摸底測試的案子,測試模式為手機連接充電器并與綜合測試儀建立通信連接,測試過程中充電器上電,手機其他功能和軟件處于關(guān)閉。我們分別在手機電量為10%,50%,90%,85%,5%和100%時進行輻射騷擾測試,六種情況下除手機電量不同外,其他條件保持不變,測試場景布置如下:
具體測試步驟如下:
1. 當(dāng)手機電池電量為10%時,其輻射騷擾測試結(jié)果Fail,測試數(shù)據(jù)如下:
(Plot A:圖中2,3號頻點屬于正常通信上下行頻率,依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)被豁免)
2. 當(dāng)手機電池電量為50%時,其輻射騷擾測試結(jié)果Fail,測試數(shù)據(jù)如下:
(Plot B:圖中6,7號頻點屬于正常通信上下行頻率,依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)被豁免)
3. 當(dāng)手機電池電量為90%時,其輻射騷擾測試結(jié)果pass,測試數(shù)據(jù)如下:
(Plot C:圖中6,7號頻點屬于正常通信上下行頻率,依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)被豁免)
4. 當(dāng)手機電池電量為85%,發(fā)現(xiàn)其輻射騷擾測試結(jié)果Fail,測試數(shù)據(jù)如下:
(Plot D:圖中7,8號頻點屬于正常通信上下行頻率,依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)被豁免)
5. 當(dāng)我們將手機電池電量為5%(手機能正常工作的最低電量),發(fā)現(xiàn)其輻射騷擾測試結(jié)果pass,測試數(shù)據(jù)如下:
(Plot E:圖中5,6號頻點屬于正常通信上下行頻率,依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)被豁免)
6. 當(dāng)我們將手機電池電量為100%,發(fā)現(xiàn)其輻射騷擾測試結(jié)果pass,測試數(shù)據(jù)如下:
(Plot F:圖中5,6號頻點屬于正常通信上下行頻率,依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)被豁免)
由上述六組數(shù)據(jù),不難看出手機電量不同,其輻射騷擾測試結(jié)果也不同。歸納起來,當(dāng)手機趨近或處于飽和電壓或虧電狀態(tài)時,其輻射騷擾水平越低;飽和電壓或虧電狀態(tài)其輻射騷擾水平最低。這是什么原因呢?
原來一般手機充電有以下幾個過程:
過程一 低電壓預(yù)充電模式――針對電池電壓過低的一種激活式充電;
過程二 全速充電模式――或稱恒流充電模式,對電壓正常的電池以設(shè)計所允許的最大充電電持續(xù)充電;
過程三 涓流充電模式――或稱恒壓充電模式,當(dāng)電池電壓達到或接近飽和電壓(一般為4.20V時,控制充電電壓保持恒定,逐漸減小充電電流;
過程四 脈沖充電模式――也是一種恒壓控制充電模式,在恒流充電模式后就會進入這種脈沖的恒壓控制充電模式;
過程五 充電截止模式。
當(dāng)手機電池電量為5%以下時,手機處于低電壓預(yù)充電模式,這種激活式充電的電流相對較小,在充電電壓不變的情況下,功率較小,因而產(chǎn)生的輻射騷擾水平較低;當(dāng)手機電池電量為10%—85%時,手機處于全速充電模式,充電電流達到最大,在充電電壓不變的情況下,功率最大,因而產(chǎn)生的輻射騷擾水平最高;當(dāng)手機電池電量為90%以上時,手機處于涓流充電模式,這時電池電壓趨于飽和電壓,充電電流逐漸減小,在充電電壓不變的情況下,功率減小,因而產(chǎn)生的輻射騷擾水平減?。划?dāng)手機電池電量為100%時,手機處于充電截止模式,充電電流最小,在充電電壓不變的情況下,功率最小,因而產(chǎn)生的輻射騷擾水平也最低。(原文轉(zhuǎn)自:摩爾實驗室)
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